放大器的测试指标可以分成两类：线性指标测试和非线性指标测试。线性指标的测试基于S参数的测量，使用常规矢量网络分析议来已完成。对于非线性指标的测试，传统测试方案使用频谱仪特信号源方法，但这种方案有很多缺点如无法构建实时扫频、洗功率测试，无法展开振幅测量如幅度振幅转化成（AM/PM）测量。RSZVB使用创意的硬件结构，其输出功率很高、功率扫瞄范围长，因而需要另外分开用于前置放大器，一次扫瞄才可确认放大器功率传输特性。

ZVB使用了强劲的自动电平掌控设计以及低选择性、低灵敏性的接收机，因而可在较宽的动态范围下展开放大器的谐波测试而需要用于外部滤波器。　　端口给定特性测量　　端口给定特性主要测试端口的S11与S22参数。如端口1的S11参数相等光线信号b1与入射光信号a1之比：　　　　S11参数也可称作输出光线因子。

S11为复数，工程上一般来说用脉冲损耗（RL）和驻波比（VSWR）来传达端口的给定程度。S11与这两个参数的关系如下：　　　　以上两个参数与S11的折算由ZVB自动已完成，用户只必须在［Format］菜单中选择［dBMag］-》脉冲损耗，［SWR］-》驻波比，就可以表明适当的测试曲线。ZVB获取轨迹统计资料功能［TraceStatistics］，可自动表明轨迹的最大值、最小值和峰-峰值，并且可以通过设置［EvalRange］，来调整统计资料频率范围。该功能对带限器件（如滤波器）的带上内指标测试十分简单。

　　　　图1脉冲损耗测试和轨迹统计资料结果　　在电路设计的过程中，准确输入阻抗信息对于设计人员更为重要。比如：在手机板设计中，设计人员要准确测试前端放大器的输出、输出阻抗，然后根据输出、输出阻抗信息来设计对应的给定网络，超过手机的仅次于功率升空和最佳的整机灵敏度。

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